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晶棒參考面X射線定向儀時間:2023-09-14型號:ALL-CKMD400型廠商性質:生產廠家瀏覽量:20139
晶棒參考面(mian)X射線定(ding)向儀(yi)的結構與功能介紹:基準(zhun)平臺(tai)(tai):此件固定(ding)在主機(ji)的臺(tai)(tai)面(mian)板上(shang),測量(liang)時做水平基準(zhun)面(mian),基準(zhun)平臺(tai)(tai)的右側為(wei)(wei)定(ding)位(wei)面(mian),左側為(wei)(wei)夾(jia)緊裝(zhuang)(zhuang)置(zhi),左側的夾(jia)緊裝(zhuang)(zhuang)置(zhi)上(shang)有夾(jia)緊螺釘,設備配套的夾(jia)具(ju)在測量(liang)時放于基準(zhun)平臺(tai)(tai)上(shang)。
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半自動尋峰X射線定向儀時間:2023-09-14型號:ALW-QZXD 800型廠商性質:生產廠家瀏覽量:18917
ALW-QZXD 800型半自(zi)動尋峰X射線定向儀為雙工作臺(tai),左右工作臺(tai)均(jun)能滿足2~8寸晶片的(de)測(ce)量,重(zhong)復精(jing)度為±3“。測(ce)定單(dan)晶材料的(de)峰位角,使用(yong)于工業(ye)生產的(de)一般要求。
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全封閉晶棒XY軸X射線定向粘料儀時間:2023-09-14型號:ALW-XYDZ 700A 型廠商性質:生產廠家瀏覽量:18883
ALW-XYDZ 700A 型全(quan)封閉晶(jing)(jing)棒(bang)(bang)XY軸X射線(xian)定(ding)(ding)向(xiang)(xiang)粘(zhan)(zhan)料儀為全(quan)封閉式雙工作臺(tai),左側工作臺(tai)在X光下對(2~6)英寸(cun)(cun)藍(lan)寶(bao)石晶(jing)(jing)棒(bang)(bang)X軸定(ding)(ding)向(xiang)(xiang),晶(jing)(jing)棒(bang)(bang)長度(du)Z短為20mm,利用導軌滑動在一塊(kuai)料板上,粘(zhan)(zhan)結多塊(kuai)晶(jing)(jing)棒(bang)(bang);右側工作臺(tai)在X光下利用工具對(2~6)英寸(cun)(cun)藍(lan)寶(bao)石晶(jing)(jing)棒(bang)(bang)Y軸角(jiao)度(du)定(ding)(ding)向(xiang)(xiang),然后將晶(jing)(jing)棒(bang)(bang)和夾(jia)具一起(qi)放到磨床進(jin)行參考(kao)面的玻璃(li)面進(jin)行磨平(ping)、加工.儀器定(ding)(ding)向(xiang)(xiang)粘(zhan)(zhan)結精度(du)±15“/30“,Z小讀數1“,具有差值顯示功(gong)能。
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晶棒XY軸X射線定向粘料儀時間:2023-09-14型號:ALW-XYDZ 700型廠商性質:生產廠家瀏覽量:19769
ALW-XYDZ 700型(xing)晶(jing)棒(bang)(bang)XY軸(zhou)X射線(xian)定(ding)向粘(zhan)料儀為(wei)雙(shuang)工(gong)(gong)(gong)作(zuo)臺,左側工(gong)(gong)(gong)作(zuo)臺在X光下(xia)對(2~6)英寸藍寶石(shi)晶(jing)棒(bang)(bang)X軸(zhou)定(ding)向,晶(jing)棒(bang)(bang)長度(du)Z短為(wei)20mm,利用導(dao)軌滑動在一塊(kuai)料板(ban)上,粘(zhan)結多塊(kuai)晶(jing)棒(bang)(bang);右(you)側工(gong)(gong)(gong)作(zuo)臺在X光下(xia)利用工(gong)(gong)(gong)具對(2~6)英寸藍寶石(shi)晶(jing)棒(bang)(bang)Y軸(zhou)角度(du)定(ding)向,然后(hou)將晶(jing)棒(bang)(bang)和夾具一起放到磨(mo)床(chuang)進行(xing)(xing)參考面的玻璃面進行(xing)(xing)磨(mo)平、加工(gong)(gong)(gong)。儀器定(ding)向粘(zhan)結精度(du)±15“/30“,Z小讀數1“
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YX-300型X射線雙晶高精度定向儀時間:2023-09-14型號:廠商性質:生產廠家瀏覽量:19963
YX-300型X射線雙晶高(gao)精(jing)度(du)定向儀此種(zhong)機型為雙晶衍射型高(gao)精(jing)度(du)定向儀,操(cao)作簡便,強度(du)較低,可用于更高(gao)精(jing)度(du)水晶晶片、壓電晶體、光(guang)學晶體以及各種(zhong)單晶晶體材料的檢(jian)測。
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