X射線探傷(shang)簡介  

射(she)(she)線探(tan)(tan)傷(shang)是利用(yong)射(she)(she)線可以穿透物質和(he)在(zai)物質中有(you)衰(shuai)減的(de)(de)特性(xing)(xing)(xing)來發現其中缺(que)陷(xian)的(de)(de)一種(zhong)無損探(tan)(tan)傷(shang)方(fang)法(fa)。它可以檢(jian)(jian)查金屬和(he)非金屬材料及其制品的(de)(de)內部缺(que)陷(xian)，如(ru)焊(han)縫中的(de)(de)氣孔、夾渣、未焊(han)透等體積性(xing)(xing)(xing)缺(que)陷(xian)。這(zhe)種(zhong)無損探(tan)(tan)傷(shang)方(fang)法(fa)有(you)*的(de)(de)優越性(xing)(xing)(xing)，即檢(jian)(jian)驗缺(que)陷(xian)的(de)(de)直(zhi)觀性(xing)(xing)(xing)、準(zhun)確性(xing)(xing)(xing)和(he)可靠性(xing)(xing)(xing)，而且(qie)，得到的(de)(de)射(she)(she)線底片可用(yong)于缺(que)陷(xian)的(de)(de)分析和(he)作(zuo)為質量(liang)憑證存(cun)檔(dang)。但此法(fa)也存(cun)在(zai)著設(she)備較復雜、成本較高的(de)(de)缺(que)點，并(bing)需要(yao)對射(she)(she)線進行防護。    

X射線(xian)的(de)產生(sheng)  

用來產(chan)生X射(she)線(xian)的裝置是(shi)X射(she)線(xian)管。它由(you)陰(yin)(yin)極(ji)、陽(yang)極(ji)和真空玻璃（或金(jin)屬陶瓷）外殼組(zu)成，其(qi)簡單(dan)結構和工作原理如圖(tu)1所示。陰(yin)(yin)極(ji)通以電(dian)流(liu)加(jia)熱至白熾狀態(tai)時(shi)，其(qi)陽(yang)極(ji)周(zhou)圍(wei)形(xing)成電(dian)子云，當(dang)在(zai)陽(yang)極(ji)與陰(yin)(yin)極(ji)間施加(jia)高壓時(shi)，電(dian)子加(jia)速(su)穿過真空空間，高速(su)運動(dong)的電(dian)子束集中轟擊陽(yang)極(ji)靶子的一個面積(ji)（幾平方毫(hao)米(mi)左(zuo)右、稱實際焦點），電(dian)子被阻擋減速(su)和吸收，其(qi)部分動(dong)能(neng)（約1%）轉換(huan)為X射(she)線(xian),其(qi)余99%以上的能(neng)量變成熱能(neng)。

X射線的(de)主要性質 

•不可見，以光速直(zhi)線(xian)傳播。 

•具有(you)可穿透可見光(guang)不能(neng)穿透的(de)物(wu)質(zhi)如骨骼、金屬等的(de)能(neng)力，并且(qie)在物(wu)質(zhi)中有(you)衰減(jian)的(de)特性。 •可以使物(wu)質(zhi)電離，能(neng)使膠片感光(guang)，亦能(neng)使某(mou)些(xie)物(wu)質(zhi)產生(sheng)熒(ying)光(guang)。   

γ射線的產生(sheng)及性質 

γ射(she)線是(shi)由放射(she)性(xing)物(wu)質（60Co、192Ir等）內(nei)部原子核的衰變過程產(chan)生(sheng)的。 

γ射(she)線(xian)的(de)(de)性(xing)質與X射(she)線(xian)相似，由于其(qi)波長(chang)比X射(she)線(xian)短，因(yin)而(er)射(she)線(xian)能量高，具有更大(da)的(de)(de)穿(chuan)透(tou)力。例(li)如，目前廣泛使(shi)用的(de)(de)γ射(she)線(xian)源60Co，它可以檢查(cha)250mm厚(hou)的(de)(de)銅(tong)質工件(jian)、350mm厚(hou)的(de)(de)鋁制工件(jian)和300mm厚(hou)的(de)(de)鋼制工件(jian)。   

射(she)線與(yu)物質的相互作用 

當射(she)線(xian)穿(chuan)透物(wu)(wu)(wu)質(zhi)(zhi)時，由于物(wu)(wu)(wu)質(zhi)(zhi)對(dui)射(she)線(xian)有吸收(shou)和散射(she)作用，從而(er)引起射(she)線(xian)能(neng)量(liang)的(de)衰減。 射(she)線(xian)在物(wu)(wu)(wu)質(zhi)(zhi)中的(de)衰減是呈負指數(shu)規律變化(hua)的(de)，以(yi)強度(du)為I0的(de)一束平行射(she)線(xian)束穿(chuan)過(guo)厚(hou)度(du)為δ的(de)物(wu)(wu)(wu)質(zhi)(zhi)為例，穿(chuan)過(guo)物(wu)(wu)(wu)質(zhi)(zhi)后的(de)射(she)線(xian)強度(du)為： 

I=I0e－μδ 

式(shi)中： 

I：射線透過厚(hou)度δ的(de)物質的(de)射線強度； I0：射線的(de)初始強度；