一、儀器(qi)特(te)點：

●探測器固(gu)定照相，區別(bie)于傳統掃描型衍射儀，照相模式(shi)高(gao)效快(kuai)捷，較掃描模式(shi)快(kuai)約 5-30 倍，適合做原位分析， 各角(jiao)度衍射信(xin)息同一時(shi)間收集；高(gao)能量(liang)分辨率 ,有效降(jiang)低熒(ying)光本(ben)底。

●測(ce)角儀(yi)θs、θd 臂(bei)采(cai)伺服電(dian)機驅動+光學編碼控(kong)制技術，探測(ce)器可(ke)沿(yan) 2θ軸(zhou)(zhou)做雙位置(zhi)移動， 測(ce)角儀(yi)轉動更(geng)(geng)平(ping)穩，衍射角度測(ce)量(liang)更(geng)(geng)準確，線性(xing)度更(geng)(geng)好(hao)。樣品沿(yan)θ軸(zhou)(zhou)旋轉，控(kong)制精(jing)度 0.01°,2 θ軸(zhou)(zhou)角度準確度±0.02°。

●配置多片(pian)(pian)探測(ce)器單元組成(cheng)探測(ce)器組件，沿衍射圓均勻固定(ding)分布，全角度(du)無縫覆(fu)蓋；雙層 21 片(pian)(pian)(或單層 10 片(pian)(pian))面陣探測(ce)器，覆(fu)蓋 2θ范(fan) 圍： -3°~150°，2D 成(cheng)像，同(tong)時收集γ角度(du) 信息(xi)，二維衍射數據(ju)，信息(xi)更豐富。

●X 射(she)線(xian)(xian)面陣型光(guang)子計數半(ban)導(dao)體探測器，高靈敏，可實現單光(guang)子計數，動態(tai)范圍大，雙閾值； 點、線(xian)(xian)光(guang)源互換，徳(de)拜謝樂與 BB 光(guang)學幾(ji)何兼備，平面、柱狀樣(yang)品(pin)兼容，探測器 2D、1D、OD 模式兼容。且抗強輻射(she)長時照射(she)，使(shi)用(yong)壽命長。

●散射線防(fang)護裝置(zhi)更安全可靠(kao)，樣品測量時射線防(fang)護門自動禁止打開(kai)，任何情況下都能(neng)避免 操(cao)作人員受到(dao)散射線輻射。

●緊湊(cou)的(de)尺寸(cun)可以安裝在實驗臺上(shang)，不需要(yao)特定(ding)的(de)實驗室環(huan)境。使用(yong)、操作(zuo)維護簡單(dan)。

二(er)、設備各部(bu)分主要技術指標