未知樣品定(ding)性(xing)分析(xi)

簡 介：

x射(she)(she)(she)線的(de)波(bo)長和晶體內部原(yuan)子面之(zhi)間的(de)間距相近，晶體可(ke)以作為X射(she)(she)(she)線的(de)空(kong)間衍射(she)(she)(she)光柵，即一束X射(she)(she)(she)線照射(she)(she)(she)到物(wu)(wu)體上時，受到物(wu)(wu)體中原(yuan)子的(de)散射(she)(she)(she)，每(mei)個原(yuan)子都產(chan)生散射(she)(she)(she)波(bo)，這些波(bo)互相干涉，結(jie)果就產(chan)生衍射(she)(she)(she)。衍射(she)(she)(she)X射(she)(she)(she)線是一種波(bo)長很短的(de)電磁波(bo)，能(neng)穿透(tou)一定厚度(du)的(de)物(wu)(wu)質，并(bing)能(neng)使熒光物(wu)(wu)質發光、照相機(ji)乳膠感光、氣體電離。

目 的：

為了材(cai)料研究、工業產品(pin)分析設計(ji)、揭示材(cai)料晶體結構和(he)化學信(xin)息。

應(ying)用(yong)范圍：

可(ke)以分(fen)析(xi)天然或是人工合成的無(wu)機和有機材料，應(ying)用(yong)在粘土礦物(wu)、水泥建材、環(huan)境粉塵、化工制品、藥品、石棉、巖(yan)礦、聚合物(wu)等研(yan)究領域。

測試(shi)步驟(zou)：

制樣→放(fang)入檢測設備→選擇條件進行(xing)測試→自(zi)動(dong)形成數(shu)據(ju)報告→解譜分析。

檢測效果圖：

1、進行未知樣(yang)品(pin)中一種和多種物相鑒定(ding)，混合(he)樣(yang)品(pin)中已(yi)知相定(ding)量分(fen)析，晶體(ti)結(jie)構(gou)解析，非常規條件下晶體(ti)結(jie)構(gou)變化（高(gao)溫(wen)、低溫(wen)條件下），材(cai)料表面(mian)膜分(fen)析，金屬(shu)材(cai)料織構(gou)、應力分(fen)析。