文物CT檢測掃描分析系(xi)統

    文物CT檢測掃描分析系統主要分為高能量CT和微焦點CT。CT是基于計算機斷層掃描技術，對文物進行2D，3D檢測。

應用主要有(you)六(liu)個方面：

●對文物內部結構及形(xing)貌(mao)進(jin)行(xing)無損掃描(miao)并分析；

●對文物的起源，制作工藝、產地和用途提供重要信息；

●對文(wen)物(wu)的(de)內部(bu)結構及尺寸(cun)進行二維(wei)、三(san)維(wei)的(de)測量(liang)；

●對文物的(de)穿孔內壁，鑲嵌加工(gong)痕跡(ji)數據分析，及數據庫的(de)建立；

●高精(jing)度獲取與解讀文物的三維(wei)信息，并可實(shi)現逆向工程；

●相(xiang)位成像功能。

相對優勢：

●開放式微焦點射線管，分辨(bian)率高，檢測更精確。

●設備設計(ji)緊湊(cou)，配置靈活，可(ke)滿足客戶多(duo)種要(yao)求。

●運行穩定，安(an)全可靠(kao)。

●掃描(miao)速(su)度快，圖像重建速(su)度快。

    結構設計簡約緊湊，是一套配置靈活、可滿足多種檢測需求的高分辨率 X 射線工業 CT 系統，具有成像分辨率高、掃描速度快、功能豐富、操作方便、運行穩定、使用及維護成本低等特點。

    該系(xi)統可(ke)以(yi)配備(bei)160kV以(yi)上微(wei)米(mi)級分(fen)辨率X射線源，也(ye)可(ke)配置(zhi)高能(neng)量(liang)開放式微(wei)焦點射線源，zui高能(neng)量(liang)達到(dao)300KV，JIMA分(fen)辨率zui小可(ke)達到(dao)0.5微(wei)米(mi)。